夹杂物最恶劣视场法
面积法晶粒度
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光源以及配件
清洁度分析系统
焊接
PCB电镀分布能力
清洁度分析系统CIX100
奥林巴斯测量显微镜STM7
即时景深扩展（EFI）
简易型BXFM
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IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
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奥林巴斯测量显微镜
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
自动聚焦装置
研究型连续变倍SZX系列
汽车行业质量控制
DP27
DSX1000数码显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
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颗粒分析
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图谱对照
普及型连续变倍SZ系列
OLS5100激光共焦显微镜
层厚度测量
截点法晶粒度
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