简易型BXFM
辅助聚焦装置
DP74
面积法晶粒度
特点
即时景深扩展(EFI)
DSX1000
Prior程序控制电动载物台
焊接
普及型连续变倍SZ系列
Linkam显微镜热台
清洁度分析系统CIX100
自动聚焦装置
OLS5100激光共焦显微镜
Presi制样设备
铸铁
光源以及配件
图谱对照
汽车行业质量控制
层厚度测量
普及型GX53
研究型连续变倍SZX系列
颗粒分析
PCB电镀分布能力
DP22
孔隙率
正立式BX53M
夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜STM7
偏光显微镜BX53P
截点法晶粒度
DP27
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