奥林巴斯测量显微镜STM7
IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
STREAM软件特点
清洁度分析系统
焊接
普及型连续变倍SZ系列
研究型连续变倍SZX系列
DP22
层厚度测量
截点法晶粒度
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
夹杂物最恶劣视场法
清洁度分析系统CIX100
OLS5100激光共焦显微镜
孔隙率
DP74
即时景深扩展(EFI)
辅助聚焦装置
Linkam显微镜热台
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
Prior程序控制电动载物台
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DSX1000数码显微镜
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DP27
偏光显微镜BX53P
面积法晶粒度
奥林巴斯测量显微镜
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