清洁度分析系统CIX100
夹杂物最恶劣视场法
层厚度测量
奥林巴斯测量显微镜
Linkam显微镜热台
STREAM软件特点
面积法晶粒度
DP74
OLS5100激光共焦显微镜
图谱对照
铸铁
偏光显微镜BX53P
普及型连续变倍SZ系列
奥林巴斯测量显微镜STM7
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
PCB电镀分布能力
自动聚焦装置
DP22
即时景深扩展(EFI)
Presi制样设备
辅助聚焦装置
DSX1000数码显微镜
颗粒分析
研究型连续变倍SZX系列
孔隙率
Prior程序控制电动载物台
简易型BXFM
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普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
光源以及配件
DP27
焊接
奥林巴斯清洁度分析系统
截点法晶粒度
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