普及型连续变倍SZ系列
Prior程序控制电动载物台
焊接
IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
截点法晶粒度
图谱对照
简易型BXFM
Presi制样设备
DP27
DP74
光源以及配件
层厚度测量
DP22
面积法晶粒度
STREAM软件特点
偏光显微镜BX53P
即时景深扩展（EFI）
汽车行业质量控制
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
颗粒分析
夹杂物最恶劣视场法
DSX1000数码显微镜
研究型连续变倍SZX系列
奥林巴斯测量显微镜
清洁度分析系统
清洁度分析系统CIX100
PCB电镀分布能力
辅助聚焦装置
OLS5100激光共焦显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
孔隙率
Linkam显微镜热台
铸铁
自动聚焦装置
奥林巴斯测量显微镜STM7
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