面积法晶粒度
偏光显微镜BX53P
辅助聚焦装置
DP74
普及型GX53
铸铁
即时景深扩展(EFI)
孔隙率
DSX1000
特点
正立式BX53M
自动聚焦装置
清洁度分析系统CIX100
PCB电镀分布能力
DP27
简易型BXFM
Prior程序控制电动载物台
Linkam显微镜热台
汽车行业质量控制
Presi制样设备
夹杂物最恶劣视场法
颗粒分析
普及型连续变倍SZ系列
截点法晶粒度
焊接
层厚度测量
图谱对照
光源以及配件
研究型连续变倍SZX系列
DP22
OLS5100激光共焦显微镜
奥林巴斯测量显微镜STM7
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