研究型连续变倍SZX系列
面积法晶粒度
DP74
普及型连续变倍SZ系列
图谱对照
特点
简易型BXFM
截点法晶粒度
PCB电镀分布能力
Prior程序控制电动载物台
汽车行业质量控制
颗粒分析
即时景深扩展(EFI)
清洁度分析系统CIX100
DSX1000
光源以及配件
自动聚焦装置
夹杂物最恶劣视场法
正立式BX53M
DP27
焊接
偏光显微镜BX53P
Presi制样设备
辅助聚焦装置
层厚度测量
DP22
奥林巴斯测量显微镜STM7
普及型GX53
Linkam显微镜热台
铸铁
孔隙率
OLS5100激光共焦显微镜
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