辅助聚焦装置
Prior程序控制电动载物台
面积法晶粒度
偏光显微镜BX53P
DP22
即时景深扩展(EFI)
铸铁
Presi制样设备
层厚度测量
特点
奥林巴斯测量显微镜STM7
颗粒分析
正立式BX53M
夹杂物最恶劣视场法
孔隙率
焊接
PCB电镀分布能力
研究型连续变倍SZX系列
简易型BXFM
普及型GX53
OLS5100激光共焦显微镜
光源以及配件
汽车行业质量控制
图谱对照
普及型连续变倍SZ系列
清洁度分析系统CIX100
截点法晶粒度
Linkam显微镜热台
DP27
自动聚焦装置
DP74
DSX1000
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