截点法晶粒度
光源以及配件
简易型BXFM
PCB电镀分布能力
孔隙率
DSX1000数码显微镜
即时景深扩展（EFI）
奥林巴斯清洁度分析系统
层厚度测量
奥林巴斯测量显微镜STM7
DP27
面积法晶粒度
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
Presi制样设备
汽车行业质量控制
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
普及型连续变倍SZ系列
偏光显微镜BX53P
自动聚焦装置
夹杂物最恶劣视场法
DP74
铸铁
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研究型连续变倍SZX系列
辅助聚焦装置
奥林巴斯测量显微镜
OLS5100激光共焦显微镜
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清洁度分析系统CIX100
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