偏光显微镜BX53P
DP22
DSX1000
图谱对照
层厚度测量
孔隙率
DP27
夹杂物最恶劣视场法
普及型GX53
即时景深扩展(EFI)
正立式BX53M
汽车行业质量控制
Prior程序控制电动载物台
面积法晶粒度
普及型连续变倍SZ系列
自动聚焦装置
PCB电镀分布能力
辅助聚焦装置
颗粒分析
光源以及配件
Linkam显微镜热台
研究型连续变倍SZX系列
简易型BXFM
DP74
Presi制样设备
铸铁
焊接
清洁度分析系统CIX100
OLS5100激光共焦显微镜
特点
截点法晶粒度
奥林巴斯测量显微镜STM7
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