DP74
奥林巴斯测量显微镜STM7
截点法晶粒度
普及型GX53
Prior程序控制电动载物台
Linkam显微镜热台
DP22
特点
汽车行业质量控制
辅助聚焦装置
夹杂物最恶劣视场法
研究型连续变倍SZX系列
面积法晶粒度
简易型BXFM
自动聚焦装置
焊接
正立式BX53M
偏光显微镜BX53P
普及型连续变倍SZ系列
清洁度分析系统CIX100
即时景深扩展(EFI)
图谱对照
颗粒分析
光源以及配件
孔隙率
PCB电镀分布能力
DSX1000
DP27
层厚度测量
铸铁
Presi制样设备
OLS5100激光共焦显微镜
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