奥林巴斯测量显微镜STM7
光源以及配件
DSX1000
研究型连续变倍SZX系列
DP22
PCB电镀分布能力
孔隙率
普及型GX53
偏光显微镜BX53P
截点法晶粒度
清洁度分析系统CIX100
铸铁
焊接
汽车行业质量控制
DP27
简易型BXFM
DP74
辅助聚焦装置
OLS5100激光共焦显微镜
颗粒分析
面积法晶粒度
Prior程序控制电动载物台
夹杂物最恶劣视场法
特点
层厚度测量
图谱对照
Linkam显微镜热台
Presi制样设备
即时景深扩展(EFI)
自动聚焦装置
正立式BX53M
普及型连续变倍SZ系列
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