层厚度测量
清洁度分析系统CIX100
偏光显微镜BX53P
普及型连续变倍SZ系列
正立式BX53M
面积法晶粒度
DP22
孔隙率
夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜STM7
Prior程序控制电动载物台
DP74
DP27
汽车行业质量控制
图谱对照
辅助聚焦装置
DSX1000
研究型连续变倍SZX系列
Presi制样设备
自动聚焦装置
简易型BXFM
即时景深扩展(EFI)
普及型GX53
OLS5100激光共焦显微镜
焊接
Linkam显微镜热台
PCB电镀分布能力
截点法晶粒度
铸铁
特点
光源以及配件
颗粒分析
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