奥林巴斯测量显微镜STM7
普及型连续变倍SZ系列
Presi制样设备
偏光显微镜BX53P
Linkam显微镜热台
特点
孔隙率
普及型GX53
焊接
截点法晶粒度
正立式BX53M
自动聚焦装置
OLS5100激光共焦显微镜
辅助聚焦装置
光源以及配件
层厚度测量
研究型连续变倍SZX系列
铸铁
清洁度分析系统CIX100
夹杂物最恶劣视场法
面积法晶粒度
Prior程序控制电动载物台
DP22
PCB电镀分布能力
颗粒分析
DSX1000
图谱对照
简易型BXFM
DP74
即时景深扩展(EFI)
DP27
汽车行业质量控制
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