截点法晶粒度
辅助聚焦装置
孔隙率
OLS5100激光共焦显微镜
特点
DP27
夹杂物最恶劣视场法
铸铁
研究型连续变倍SZX系列
焊接
即时景深扩展(EFI)
层厚度测量
面积法晶粒度
简易型BXFM
图谱对照
DP74
自动聚焦装置
Presi制样设备
正立式BX53M
DSX1000
清洁度分析系统CIX100
光源以及配件
颗粒分析
偏光显微镜BX53P
普及型连续变倍SZ系列
汽车行业质量控制
Linkam显微镜热台
Prior程序控制电动载物台
奥林巴斯测量显微镜STM7
DP22
普及型GX53
PCB电镀分布能力
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