图谱对照
焊接
截点法晶粒度
PCB电镀分布能力
奥林巴斯测量显微镜
研究型连续变倍SZX系列
DP27
奥林巴斯测量显微镜STM7
Presi制样设备
自动聚焦装置
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辅助聚焦装置
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
Prior程序控制电动载物台
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普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
清洁度分析系统
孔隙率
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偏光显微镜BX53P
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OLS5100激光共焦显微镜
DP22
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面积法晶粒度
DP74
IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
DSX1000数码显微镜
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普及型连续变倍SZ系列
Linkam显微镜热台
颗粒分析
夹杂物最恶劣视场法
层厚度测量
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