简易型BXFM
面积法晶粒度
IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
DSX1000数码显微镜
Prior程序控制电动载物台
截点法晶粒度
Presi制样设备
颗粒分析
辅助聚焦装置
奥林巴斯测量显微镜STM7
铸铁
偏光显微镜BX53P
夹杂物最恶劣视场法
DP74
层厚度测量
焊接
汽车行业质量控制
OLS5100激光共焦显微镜
自动聚焦装置
PCB电镀分布能力
普及型连续变倍SZ系列
奥林巴斯测量显微镜
即时景深扩展（EFI）
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
图谱对照
STREAM软件特点
孔隙率
DP22
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
研究型连续变倍SZX系列
Linkam显微镜热台
清洁度分析系统
光源以及配件
DP27
清洁度分析系统CIX100
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