颗粒分析
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夹杂物最恶劣视场法
即时景深扩展(EFI)
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DP22
PCB电镀分布能力
STREAM软件特点
自动聚焦装置
截点法晶粒度
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DP74
焊接
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DP27
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奥林巴斯清洁度分析系统
研究型连续变倍SZX系列
奥林巴斯测量显微镜
层厚度测量
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
面积法晶粒度
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
Presi制样设备
偏光显微镜BX53P
清洁度分析系统CIX100
辅助聚焦装置
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光源以及配件
铸铁
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