普及型连续变倍SZ系列
自动聚焦装置
Prior程序控制电动载物台
DP74
光源以及配件
焊接
简易型BXFM
面积法晶粒度
奥林巴斯清洁度分析系统
截点法晶粒度
PCB电镀分布能力
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图谱对照
奥林巴斯测量显微镜STM7
Presi制样设备
研究型连续变倍SZX系列
DP27
偏光显微镜BX53P
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
铸铁
DSX1000数码显微镜
Linkam显微镜热台
DP22
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
OLS5100激光共焦显微镜
层厚度测量
辅助聚焦装置
清洁度分析系统CIX100
即时景深扩展(EFI)
颗粒分析
夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜
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孔隙率
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