Linkam显微镜热台
DSX1000数码显微镜
DP74
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
层厚度测量
研究型连续变倍SZX系列
IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
奥林巴斯测量显微镜
夹杂物最恶劣视场法
Prior程序控制电动载物台
焊接
辅助聚焦装置
普及型连续变倍SZ系列
清洁度分析系统
铸铁
截点法晶粒度
Presi制样设备
奥林巴斯测量显微镜STM7
简易型BXFM
孔隙率
汽车行业质量控制
偏光显微镜BX53P
图谱对照
DP27
颗粒分析
OLS5100激光共焦显微镜
清洁度分析系统CIX100
自动聚焦装置
光源以及配件
即时景深扩展（EFI）
PCB电镀分布能力
面积法晶粒度
STREAM软件特点
DP22
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
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