截点法晶粒度
OLS5100激光共焦显微镜
即时景深扩展（EFI）
孔隙率
奥林巴斯清洁度分析系统
DP22
面积法晶粒度
图谱对照
DP74
汽车行业质量控制
研究型连续变倍SZX系列
奥林巴斯测量显微镜
偏光显微镜BX53P
焊接
层厚度测量
夹杂物最恶劣视场法
简易型BXFM
STREAM软件特点
奥林巴斯测量显微镜STM7
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
光源以及配件
清洁度分析系统CIX100
铸铁
DP27
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
PCB电镀分布能力
辅助聚焦装置
颗粒分析
Linkam显微镜热台
Presi制样设备
Prior程序控制电动载物台
DSX1000数码显微镜
普及型连续变倍SZ系列
自动聚焦装置
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