偏光显微镜BX53P
简易型BXFM
颗粒分析
研究型连续变倍SZX系列
DP27
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Presi制样设备
图谱对照
层厚度测量
PCB电镀分布能力
清洁度分析系统CIX100
普及型连续变倍SZ系列
汽车行业质量控制
焊接
夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜STM7
截点法晶粒度
自动聚焦装置
面积法晶粒度
铸铁
Prior程序控制电动载物台
DP22
即时景深扩展（EFI）
清洁度分析系统
OLS5100激光共焦显微镜
奥林巴斯测量显微镜
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
DSX1000数码显微镜
DP74
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IC以及4”硅片检查显微镜BX53M
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正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
孔隙率
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