自动聚焦装置
孔隙率
面积法晶粒度
夹杂物最恶劣视场法
奥林巴斯测量显微镜STM7
正立式BX53M奥林巴斯金相显微镜
DP27
层厚度测量
奥林巴斯清洁度分析系统
Prior程序控制电动载物台
焊接
Presi制样设备
OLS5100激光共焦显微镜
颗粒分析
普及型连续变倍SZ系列
Linkam显微镜热台
偏光显微镜BX53P
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截点法晶粒度
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辅助聚焦装置
研究型连续变倍SZX系列
清洁度分析系统CIX100
普及型GX53奥林巴斯倒置显微镜
DP74
奥林巴斯测量显微镜
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DSX1000数码显微镜
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光源以及配件
即时景深扩展（EFI）
DP22
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